RX SOLUTIONS用于非接觸和非破壞的物品內(nèi)部檢查,可以無(wú)需破壞物品外觀而清晰的顯示物品的內(nèi)部結(jié)構(gòu),并且可以非常詳細(xì)的檢測(cè)物品內(nèi)部的空隙、裂痕、遺留異物、焊接和粘接的連接狀態(tài)。
三維計(jì)算機(jī)斷層掃描; 實(shí)時(shí)高分辨率數(shù)字化X 光透視; 免維護(hù); 4 個(gè)電動(dòng)運(yùn)動(dòng)軸; 5 -250 um 分辨率;最大樣品尺寸:25 cm(9.8 英寸); 小空間
高分辨率 微米或納米級(jí)三維計(jì)算機(jī)斷層掃描&數(shù)字化 X 光透視系統(tǒng)
高分辨率 微米或納米級(jí)三維計(jì)算機(jī)斷層掃描&數(shù)字化 X光透視系統(tǒng)
Modular system with multiple imagers and x-ray generators; Very large inspection volume and manipulation volume ;From micro to nano 3D CT scan ;Experimentations possible in-situ
SEIKOH GIKEN可以提供多種產(chǎn)品檢測(cè)服務(wù),分別有計(jì)量分析、材料分析、品質(zhì)管控等
EasyTomS 三維X 射線計(jì)算機(jī) 斷層掃描成像系統(tǒng)
高分辨率微米級(jí)&納米級(jí)CT系統(tǒng),緊湊空間中功能最強(qiáng)大的設(shè)備